塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
●技術(shù)參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-12mm
2、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。
3、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
4、外型尺寸：160×140×200mm
5、整機(jī)重量：1.5kg
塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
●技術(shù)參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-12mm
2、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。
3、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
4、外型尺寸：160×140×200mm
5、整機(jī)重量：1.5kg
塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
●技術(shù)參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-12mm
2、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。
3、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
4、外型尺寸：160×140×200mm
5、整機(jī)重量：1.5kg
塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
●技術(shù)參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-12mm
2、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。
3、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
4、外型尺寸：160×140×200mm
5、整機(jī)重量：1.5kg
塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀
薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)試、紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
●技術(shù)參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-12mm
2、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。
3、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
4、外型尺寸：160×140×200mm
5、整機(jī)重量：1.5kg
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更新時(shí)間：2020-07-16 
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